測試波形分析與定標(biāo)

沖閃測試時故障點(diǎn)二次擊穿放電波形

對于個別阻值較高的高阻故障，不是一下子故障點(diǎn)擊穿閃絡(luò)放電，而是沖擊電壓越過故障點(diǎn)，先傳到終端，再從終端返回過程中、電壓疊加，然后故障點(diǎn)才閃絡(luò)放電，此后在測試端和故障點(diǎn)之間來回反射，顯示故障點(diǎn)二次擊穿放電波形。沖閃法電流取樣測試時，故障點(diǎn)二次擊穿放電波形如圖6.6所示：

　圖6.6　故障點(diǎn)二次擊穿測試波形

波形特點(diǎn)：二次擊穿波形特點(diǎn)為發(fā)射脈沖為正脈沖波形，一次反射為負(fù)脈沖波形，并且二次波形間距離為電纜全長（同故障點(diǎn)不放電波形）。從第三個波形開始，測試波形與沖閃測試標(biāo)準(zhǔn)波形一致，其間距代表故障距離。

定光標(biāo)方法：二次擊穿波形同時具有故障點(diǎn)不放電波形及正常放電波形特點(diǎn)。定光標(biāo)時，先定前面二波形，看是否與電纜全長一致，然后再觀察后面幾個反射波形，看是否具有前面講的沖閃波形特點(diǎn)（正脈沖前沿有負(fù)反沖，且各反射波形間距一致）。若具有二次擊穿波形特點(diǎn)，則按后面具有故障點(diǎn)閃絡(luò)擊穿特點(diǎn)的二波形分別定光標(biāo)起點(diǎn)、終點(diǎn)，就可確定故障點(diǎn)距離。

實(shí)際測試時須注意，由于故障性質(zhì)及測試條件不同，二次擊穿波形也變化較大，有時第二個波形（終端不放電反射波形）與第三個波形間距較大（延時擊穿時間較長），有時間距小，甚至合二為一（延時較?。?。定光標(biāo)時，不管前面幾個波形多么復(fù)雜，只要后面有正常放電波形，就按后面波形定光標(biāo)起點(diǎn)、終點(diǎn)，確定故障距離。

對于故障點(diǎn)二次擊穿波形，測試時可以加大球間隙，增加電容容量，提高沖擊電壓，一般就可以測出正常閃絡(luò)放電波形。

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